PIFOC® Scanner-System für Mikroskop-Objektive; schnelles Einschwingen; 100 µm Stellweg; kapazitiv, direkte Positionsmessung; D-Sub 7W2 (m)-Stecker; 1,5 m Kabellänge. System bestehend aus PIFOC® Scanner P-725.1CDE1 und Controller E-709.1C1L.
P-725.xCDE1S PIFOC® Scanner-System für Mikroskop-Objektive
Dynamischer Fokus-Scanner der Einstiegsklasse für Stellwege bis 400 µm, inkl. Controller
- Stellweg 100 µm oder 400 µm
- Wesentlich schnelleres Ansprechen und höhere Lebensdauer als motorische Antriebe
- Feinpositionierung von Objektiven mit Sub-nm-Auflösung
- Große freie Apertur mit Ø 29 mm
Einsatzgebiete
- Superresolution-Mikroskopie
- Lichtscheibenmikroskopie
- Konfokale Mikroskopie
- 2-Photonen-Mikroskopie
- 3D-Imaging
- Screening
- Interferometrie
- Messtechnik
- Autofokus-Systeme
- Biotechnologie
- Halbleiterinspektion
PIFOC® Scanner-System der Einstiegsklasse
System bestehend aus PIFOC® Scanner P-725.xCDE1 und Controller E-709.1C1L.
Überragende Lebensdauer dank PICMA® Piezoaktoren
PICMA® Piezoaktoren sind vollkeramisch isoliert. Dies schützt sie vor Luftfeuchtigkeit und Ausfällen durch erhöhten Leckstrom. PICMA® Aktoren bieten eine bis zu zehnmal höhere Lebensdauer als konventionelle polymerisolierte Aktoren. 100 Milliarden Zyklen ohne einen einzigen Ausfall sind erwiesen.
Sub-Nanometer-Auflösung mit kapazitiven Sensoren
Kapazitive Sensoren messen kontaktfrei mit Sub-Nanometer-Auflösung. Sie garantieren eine herausragende Linearität der Bewegung, eine hohe Langzeitstabilität und eine Bandbreite im kHz-Bereich.
Hohe Führungsgenauigkeit durch spielfreie Festkörpergelenkführungen
Festkörpergelenkführungen sind wartungs-, reibungs- und verschleißfrei und benötigen keine Schmierstoffe. Ihre Steifigkeit macht sie hoch belastbar und unempfindlich gegen Schockbelastungen und Vibrationen. Sie arbeiten in einem weiten Temperaturbereich.
Spezifikationen
Spezifikationen
Bewegen | P-725.1CDE1S | P-725.4CDE1S | Toleranz |
---|---|---|---|
Aktive Achsen | Z | Z | |
Stellweg in Z | 100 µm | 400 µm | +20 / -0 % |
Stellweg in Z, ungeregelt | 120 µm | 420 µm | ±20 % |
Linearitätsabweichung in Z | 0,2 % | 0,2 % | max. |
Positionieren | P-725.1CDE1S | P-725.4CDE1S | Toleranz |
Kleinste Schrittweite in Z | 2 nm | 2 nm | |
Punkt-Wiederholgenauigkeit, 10-%-Schritt, 1 Sigma | 20 nm | 20 nm | max. |
Integrierter Sensor | Kapazitiv, direkte Positionsmessung | Kapazitiv, direkte Positionsmessung | |
Sensorrauschen, 1 Sigma | 5 nm | 5 nm | max. |
Antriebseigenschaften | P-725.1CDE1S | P-725.4CDE1S | Toleranz |
Antriebstyp | PICMA® | PICMA® | |
Elektrische Kapazität in Z | 3,2 µF | 6,2 µF | ±20 % |
Mechanische Eigenschaften | P-725.1CDE1S | P-725.4CDE1S | Toleranz |
Steifigkeit in Z | 0,23 N/µm | 0,12 N/µm | min. |
Resonanzfrequenz in Z, unbelastet | 470 Hz | 230 Hz | min. |
Resonanzfrequenz in Z, belastet mit 150 g | 185 Hz | 120 Hz | min. |
Zulässige Druckkraft in Z | 100 N | 100 N | max. |
Zulässige Zugkraft in Z | 20 N | 20 N | max. |
Führung | Festkörpergelenksführung mit Hebelübersetzung | Festkörpergelenksführung mit Hebelübersetzung | |
Gesamtmasse | 280 g | 280 g | ±5 % |
Material | Edelstahl, Aluminium | Edelstahl, Aluminium | |
Objektivdurchmesser | 39 mm | 39 mm | max. |
Anschlüsse und Umgebung | P-725.1CDE1S | P-725.4CDE1S | Toleranz |
Betriebstemperaturbereich | 10 bis 70 °C | 10 bis 70 °C | |
Anschluss | D-Sub 7W2 (m) | D-Sub 7W2 (m) | |
Kabellänge | 1,5 m | 1,5 m | +50 / -0 mm |
Linearitätsabweichung: Der spezifizierte Wert wird nur mit empfohlenen Digitalcontrollern erreicht.
Positionsrauschen: 1 Sigma
Das Objektiv ist nicht im Lieferumfang enthalten.
Downloads
Datenblatt
Dokumentation
Benutzerhandbuch P725UM0003
P-725.xCDE1S PIFOC® Scannersystem für Mikroskopobjektive
3-D-Modelle
P-725.xCDE1S 3-D-Modell
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PIFOC® Scanner-System für Mikroskop-Objektive; schnelles Einschwingen; 400 µm Stellweg; kapazitiv, direkte Positionsmessung; D-Sub 7W2 (m)-Stecker; 1,5 m Kabellänge. System bestehend aus PIFOC® Scanner P-725.4CDE1 und Controller E-709.1C1L.
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Technologie
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PICMA® Technologie
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Präzision und Reproduzierbarkeit sind undenkbar ohne Einsätze höchstauflösender Messverfahren. Hier bieten kapazitive Sensoren die besten Ergebnisse.