NEW

L-220 V6 High-Resolution Linear Actuator Suitable for Vacuum

Für hohe Zyklenzahlen geeignet

L-220 V6 High-Resolution Linear Actuator Suitable for Vacuum
Produktbeschreibung Spezifikationen Downloads Angebot / Bestellung

Linearantrieb der Referenzklasse

Verbindet hohe Präzision, hohe Kräfte und hohe Dynamik. Leistungsstarker und vibrationsarmer 2-Phasen-Schrittmotor mit Getriebeuntersetzung ermöglicht präzise Positionierung auch ohne Positionsregelung.

Hochwertige Komponenten

Kugelumlaufspindel für gleichmäßigen Vorschub. Nichtdrehendes Kopfstück für gleichförmige Bewegung vermeidet Taumelfehler, Drehmomente und Verschleiß am Kontaktpunkt. Inkl. Flach- und Kugelkopfstück zur Entkopplung von Kräften. Kontaktlose Endschalter schützen die Mechanik. Ein richtungserkennender Referenzschalter erleichtert Automatisierungsaufgaben.

Reduziertes Ausgasen speziell für den Einsatz in Vakuumumgebung

Insbesondere die Schmierung der Führung und der Spindel ist mit einem besonders ausgasarmen Stoff durchgeführt. Damit kann eine Ausheiztemperatur bis 80 °C erreicht werden. Durch diese und weitere Modifikationen der PI Vakuumklasse V6 kann dieser Positionierer bei bis zu 10-6 hPa verwendet werden.

Einsatzgebiete

Vakuumkammern. Forschung. Beamline-Instrumentierung. Mikroskopie. Elektronikmontage und -inspektion.

Spezifikationen

Datenblatt

Datenblatt L-220 V

Version / Datum
2020-04-23
Version / Datum
2020-04-23
Dokumentsprache
pdf - 270 KB
pdf - 272 KB

Downloads

Datenblatt

Datenblatt

Datenblatt L-220 V

Version / Datum
2020-04-23
Version / Datum
2020-04-23
Dokumentsprache
pdf - 270 KB
pdf - 272 KB

Dokumentation

Dokumentation

User Manual L220T0020

L-220.02A200V6 Precision linear actuator with stepper drive and gear for vacuum applications (1 E-6 hPa)
Version / Datum
2020-06-26
Dokumentsprache Englisch
Anfrage Downloadlink

3-D-Modelle

3-D-Modelle

3D-Modell L-220.02A200V6

Version / Datum
2020-04-24
Anfrage Downloadlink

Angebot / Bestellung

Fordern Sie ein unverbindliches Angebot über gewünschte Stückzahlen, Preise und Lieferzeiten an oder beschreiben Sie ihre gewünschte Modifikation. Produkte, die online verfügbar sind, können Sie direkt bestellen.

Fragen Sie den Fachmann!

Erhalten Sie innerhalb kürzester Zeit per E-Mail oder Telefon eine Rückmeldung zu Ihren Fragen von einem PI Vertriebsingenieur.

Anwendungen

IsoView Lichtblattmikroskop

Die Lichtblattmikroskopie bietet großes Anwendungspotential in den Biowissenschaften. IsoView ist eine brillante Interpretation dieser Technologie, die insbesondere für die Aufnahme dynamischer Vorgänge in Zellen über mehrere Stunden hinweg bei großen Proben entwickelt wurde. Probenpositionierung und Objektivbewegung spielen eine wichtige Rolle im Aufbau von IsoView.
Mehr erfahren

Flamingo Lichtblattmikroskopie

Bei der Lichtblattmikroskopie werden Beleuchtungs- und Beobachtungsstrahlengang auf zwei Optiksysteme verteilt, die einen Winkel von 90° zueinander bilden. Der Laserstrahl zur Probenbeleuchtung wird in eine Ebene aufgefächert und bildet einen optischen Schnitt, der eine dünne Schicht innerhalb der Probe ausleuchtet. Das dort emittierte Fluoreszenzlicht wird vom Objektiv erfasst und detektiert.
Mehr erfahren

Positionierlösungen für die interne Totalreflexionsfluoreszenz-Mikroskopie (TIRFM)

Linearversteller justieren den Laserstrahl im TIRF Mikroskop. Die präzise Probenpositionierung gelingt durch die Kombination zweier Kreuztische.
Mehr erfahren
PI-4-Axis-Positioning

Long-Term Positioning

High-Precision at 10-7 hPa, beamline experiments at the Swiss Light Source (SLS).
Mehr erfahren
SURFACE Sample Manipulator

High Vacuum Positioning

Investigation of the structural properties of thin films under high-vacuum conditions.
Mehr erfahren
PI-Vacuum-Chamber-PI-Hexapod

Vacuum Chamber

Positioning the Vacuum Chamber for X-ray Diffraction Experiment
Mehr erfahren
[Translate to German:] Positioning of X-Ray Detectors

Positioning of X-Ray Detectors

The LCLS produces synchrotron radiation of extremely high brilliance.
Mehr erfahren
Cryo Sample Positioning with SpaceFAB

Sample Positioning in High-Vacuum

Sample Manipulators in High-Vacuum
Mehr erfahren

Positioning for Laminography

High-Precision Spatial Positioning of Flat, Extended Objects
Mehr erfahren
Nanotomography sample positioning

Nanotomography

At the X-ray light source PETRA III at the DESY research center in Hamburg operates the Imaging Beamline P05.
Mehr erfahren

Accelerator Technology

Dynamic compensation of Lorentz forces at the XFEL accelerator structures: The particle accelerator XFEL at the DESY (German Electron Synchrotron) uses acceleration technology based on super-conducting acceleration structures, so-called resonators or cavities.
Mehr erfahren
Beamline Instrumentation

Beamline Instrumentation

Scientific experiments pose their own challenges, and beamline X-ray experiments are even more special in themselves. However, the need for precision equipment is universal.
Mehr erfahren

Mikroskopie

Bildgebende Verfahren steigern die Effizienz in ganz unterschiedlichen Sparten, angefangen von der Medizintechnik bis hin zur Arzneimittelforschung und Halbleiterfertigung.
Mehr erfahren
High-Speed Microscopy for Quality Control

Hochgeschwindigkeits-Mikroskopie

Die Probenpositionierung erfolgt bei AFM-Scannern für Rasterkraftmikroskopie mit piezobasierten Scantischen, die somit eine Schlüsselrolle einnehmen.
Mehr erfahren

Konfokale Mikroskopie

Mit konfokaler Mikroskopie wird die Oberflächenbeschaffenheit der Probe z. B. in der Dermatologie durch die Verschiebung der Brennebene detektiert.
Mehr erfahren
Hochauflösende dreidimensionale Oberflächeninspektion

3D-Oberflächeninspektion

Für die 3D-Oberflächeninspektion mit Picometer-Auflösung werden hochauflösende Kamerasysteme mit Weißlichtinterferometrie kombiniert.
Lens Positioning for 3-D Surface Inspection
Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie

Die Probenpositionierung erfolgt bei AFM-Scannern für Rasterkraftmikroskopie mit piezobasierten Scantischen, die somit eine Schlüsselrolle einnehmen.
Scanning Tables for Atomic Force Microscopy