PIFOC® Objektivscanner & PInano® Probentische für die Mikroskopie

PInano® Piezotische und PIFOC® Objektivscanner mit Festkörperführungen bieten hohe Dynamik für Positionier- und Scananwendungen. Standardlösungen umfassen die Probenpositionierung in XY sowohl parallel als auch orthogonal zur optischen Achse, und die Z-Fokussierung des Objektivs.

Die Positionierer sind auch als Komplettsysteme mit passendem Controller, Verbindungskabeln und Software erhältlich. Wie alle Piezosysteme werden auch die Mikroskopietische geprüft und voreingestellt mit Messprotokoll ausgeliefert. 

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PIFOC® Objektivscanner für die Mikroskopie

NEW

P-725.xCDE2 PIFOC® Objektivscanner mit langem Stellweg

P-726 PIFOC® Hochlast Objektivscanner

NEW

V-308 Voice Coil PIFOC Focus Drive for Objectives

ND72Z2LAQ PIFOC® Objektivscansystem 2000 µm

P-725.xDD PIFOC® Hochdynamischer Piezoscanner

P-721 PIFOC® Hochpräziser Objektivscanner

PD72Z1x PIFOC® Objektivscansystem 100 µm

PD72Z2x • PD72Z4x PIFOC® Objektivscansystem 400 µm

P-725.xxx PIFOC® Objektivscanner mit langem Stellweg


Z-Probenscanner für die Mikroskopie

P-737 PIFOC® Z-Probenpositionierer

P-736 PInano® Z-Mikroskopiescanner


XY(Z) Pinano® Piezo-Probenscanner

P-545.xR8S PInano® XY(Z)-Piezosystem

P-545.xC8S PInano® Cap XY(Z)-Piezosystem

P-545.3D8S PInano® Trak Piezotrackingsystem