PIFOC® Objektivscanner & PInano® Probentische für die Mikroskopie

PInano® Piezotische und PIFOC® Objektivscanner mit Festkörperführungen bieten hohe Dynamik für Positionier- und Scananwendungen. Standardlösungen umfassen die Probenpositionierung in XY sowohl parallel als auch orthogonal zur optischen Achse, und die Z-Fokussierung des Objektivs.

Die Positionierer sind auch als Komplettsysteme mit passendem Controller, Verbindungskabeln und Software erhältlich. Wie alle Piezosysteme werden auch die Mikroskopietische geprüft und voreingestellt mit Messprotokoll ausgeliefert. 

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PIFOC® Objektivscanner für die Mikroskopie

P-725.xCDE2 PIFOC® Fokus-Scanner für Mikroskop-Objektive

Dynamisches Scannen mit Stellwegen von 100 µm, 400 µm oder 800 µm

P-726 PIFOC® Hochlast Objektivscanner

Hochdynamisches Scansystem mit großem Stellweg für schwere Objektive
NEW

V-308 Voice-Coil PIFOC® Fokusantrieb für Objektive

Hochdynamischer Positionierer für Mikroskopobjektive

ND72Z2LAQ PIFOC® Objektivscansystem 2000 µm

Nanometer-Auflösung und schnelles Einschwingverhalten

P-725.CDD PIFOC® Hochdynamischer Piezoscanner

Nanopositionierer und Scanner für Mikroskop-Objektive

Z-Probenscanner für die Mikroskopie

P-737 PIFOC® Z-Probenpositionierer

Mit großer Apertur und flacher Bauform

P-736 PInano® Z-Mikroskopiescanner

Preisgünstig, mit flachem Profil

XY(Z) Pinano® Piezo-Probenscanner

P-545.xR8S PInano® XY(Z)-Piezosystem

Preisgünstiges Nanopositioniersystem für die hochauflösende Mikroskopie

P-545.xC8S PInano® Cap XY(Z)-Piezosystem

Kapazitive Positionsmessung für die Superresolution-Mikroskopie

P-545.3D8S PInano® Trak Piezotrackingsystem

Schneller XY(Z)-Tisch für die hochdynamische Mikroskopie