Nanopositionierung für die Mikroskopie

Schnell, kompakt und nanometergenau

Die präzise Positionierung ist das Schlüsselelement in allen Arten der Mikroskopie. Für hochauflösende Mikroskopie müssen sowohl Proben als auch abbildende Elemente hochpräzise und mit hoher Wiederholgenauigkeit positioniert werden. Die Anforderungen reichen von der Z-Fokus-Positionierung des Objektivs bis hin zur Grob- und Feinpositionierung der Probe in X-, Y- und Z-Richtung sowie oft in θX, θy und manchmal sogar in θZ. PI begegnet diesen Anforderungen mit einem breiten Produktportfolio für inverse Mikroskopsysteme aller großen Hersteller.

Probentische für die Grob- und Feinpositionierung

  • U-780 PILine® Kreuztischsystem mit Controller und Joystick
    • Hochauflösender Piezolinearantrieb
    • Selbsthemmung in Ruhe | rauscharm
    • Höchste Stabilität durch geringe thermische Last und Schmiermittelfreiheit
    • Großer Dynamikbereich von 10 µm/s bis 120 mm/s
    • Stellweg bis 135 mm × 85 mm
    • Kompatibel mit einer Vielzahl von Probenhaltern
  • Große Auswahl an Feinpositioniertischen zur Positionierung von Proben (Probenhalter) im Nanometerbereich
    • Positionierung mit (Sub-)Nanometer-Genauigkeit in einer (Z) Richtung oder in vielen Freiheitsgraden; abhängig vom Model und den Anforderungen
    • Hohe Flexibilität an Stellbereichen und Geschwindigkeiten

Nanometergenau fokussieren und scannen von Z-Stapeln: PIFOC® Objektivscanner

  • Mit einer breiten Palette von PIFOC® Objektivscannern bietet PI die Möglichkeit, genau das Experiment oder die Probenanalyse durchzuführen, die Sie durchführen möchten.
  • Die neuesten Entwicklungen umfassen den PIFOC® P-725.1CDE2 mit verbesserten Einschwingzeiten.

Weitere Anwendungen

Anwendungen für Probenpositioniertische

Weitere Anwendungen für den PIFOC® Scanner


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Downloads

Broschüre

Nanopositioning for Microscopy

Fast, Compact, to the Nanometer
Version / Datum
BRO28E R5D
Version / Datum
BRO28CN 2018-12
Dokumentsprache
pdf - 8 MB
pdf - 13 MB
Whitepaper

PI Höchstauflösende Mikroskopie aus dem Baukasten

Piezobasierte Scantische für exakte Probenpostitionierung und -messung
Version / Datum
WP pi1114
Version / Datum
WP pi1114
Dokumentsprache
pdf - 971 KB
pdf - 969 KB

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