P-725KHDS PIFOC® Objektivscanner mit hoher Dynamik

Nanometer-Auflösung für schwere Objektive

Stellweg 400 µm
Resonanzfrequenz 120 Hz mit 400 g Last
Einschwingzeit 20 ms mit 400 g Last
QuickLock-Gewindeadapter bis M32

Vorläufige Daten

P-725KHDS

Einheit

Aktive Achsen

Z


Bewegung und Positionieren

Integrierter Sensor

Kapazitiv

Stellweg, geregelt

400

µm

Auflösung, geregelt

2,5

nm

Linearitätsabweichung in X, Y

0,06

%


Mechanische Eigenschaften

Steifigkeit

0,35

N/µm

Resonanzfrequenz unbelastet in X

330

Hz

Resonanzfrequenz in X, belastet, 100 g

230

Hz

Resonanzfrequenz in X, belastet, 400 g

120

Hz

Belastbarkeit

10

N


Antriebseigenschaften

Piezokeramik

PICMA® P-887

Elektrische Kapazität in X, Y

6,4

µF


Anschlüsse und Umgebung

Betriebstemperaturbereich

10 bis 50

°C

Material

Aluminium

Kabellänge

1,5

m

Stecker

D-Sub-Spezial,1 Kanal

Empfohlener Controller

E-709.CHG

Sonderausführungen auf Anfrage.

Zeichnungen / Bilder

PI P-725KHDS

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PI Datenblatt P-725KHDS

PIFOC® Objektivscanner mit hoher Dynamik Nanometer-Auflösung für schwere Objektive
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