M-545 Mikroskop-Kreuztisch

Kompakt, stabil, großer Stellweg

M-545 Mikroskop-Kreuztisch
Produktbeschreibung Spezifikationen Downloads Angebot / Bestellung
  • Stabile Plattform für P-545 PInano® Piezo-Nanopositioniersysteme
  • Niedrige Bauhöhe für einfache Integration: 30 mm
  • Stellweg 25 mm × 25 mm
  • Manuelle Bedienung mit Mikrometerschrauben, optionale Motorisierung
  • Für inverse Mikroskope von Nikon, Zeiss, Leica und Olympus

Manueller Mikroskop-Kreuztisch der Standardklasse

Grobjustage für Piezo-Nanopositionierer von PI und manuelle Positionierung von Probenhaltern. Unterstützt ein optimales Scan- und Einschwingverhalten.

Mikrometerschraube oder Schrittmotorantrieb

Der M-545 Kreuztisch kann optional mit Antrieben der M-229 Serie ausgerüstet werden (alle Modelle außer M-545.2MZ). Unter den Produktnummern M-545.USG bzw. M-545.USC sind Komplettpakete mit zwei Schrittmotorantrieben, passendem Controller und Joystick erhältlich.

Passend für Mikroskope zahlreicher Hersteller

Für inverse Mikroskope von Nikon (TI), Zeiss (Axio Observer), Leica (DMI) und Olympus (IX2, IX3). Versionen für weitere Mikroskope auf Anfrage.

Kombinierbar mit zahlreichen PI-Nanopositionierern

Direkte Montage von Piezo-Nanopositionierern der P-545 PInano® und P-541 / P-542 Serie auf der Plattform des M-545 möglich. Für die Kombination mit anderen Piezo-Nanopositionierern von PI sind Adapterplatten verfügbar.

Spezifikationen

Datenblatt

Datenblatt M-545

Version / Datum
2019-02-12
Version / Datum
2019-02-12
Version / Datum
2019-09-12
Dokumentsprache
pdf - 1 MB
pdf - 1 MB
pdf - 1,016 KB

Downloads

Datenblatt

Datenblatt

Datenblatt M-545

Version / Datum
2019-02-12
Version / Datum
2019-02-12
Version / Datum
2019-09-12
Dokumentsprache
pdf - 1 MB
pdf - 1 MB
pdf - 1,016 KB

Dokumentation

Dokumentation

Technical Note M545T0001

M-545.USG / M-545.USC Antriebssatz für M-545-Kreuztisch
Version / Datum
2019-04-16
Dokumentsprache Englisch
pdf - 1 MB
Dokumentation

Kurzanleitung MP119EK

Positionierer mit Elektromotoren: M-06x, M-11x, M-12x, M-4xx, M-5xx
Version / Datum
3.0.0 11/2018
Dokumentsprache Englisch
pdf - 2 MB
Dokumentation

Übersicht Mikroskopiezubehör

PI Mikroskopie-Probenhalter und Adapter für Mikroskopietische
Version / Datum
2018-05-16
Version / Datum
2018-05-16
Dokumentsprache
pdf - 138 KB
pdf - 150 KB
Dokumentation

Benutzerhandbuch PZA02

M-545 Series Microscope Stages
Version / Datum
3.1.0 2019-06-02
Dokumentsprache Englisch

3-D-Modelle

3-D-Modelle

M-545 3D-Modell

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Zubehör

Probenhalter

Adapterplatten

Schrittmotor-Antriebssätze (optional; für alle Modelle außer M-545.2MZ)

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Anwendungen

Flamingo Lichtblattmikroskopie

Bei der Lichtblattmikroskopie werden Beleuchtungs- und Beobachtungsstrahlengang auf zwei Optiksysteme verteilt, die einen Winkel von 90° zueinander bilden. Der Laserstrahl zur Probenbeleuchtung wird in eine Ebene aufgefächert und bildet einen optischen Schnitt, der eine dünne Schicht innerhalb der Probe ausleuchtet. Das dort emittierte Fluoreszenzlicht wird vom Objektiv erfasst und detektiert.
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Positionierlösungen für die interne Totalreflexionsfluoreszenz-Mikroskopie (TIRFM)

Linearversteller justieren den Laserstrahl im TIRF Mikroskop. Die präzise Probenpositionierung gelingt durch die Kombination zweier Kreuztische.
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Mikroskopie

Bildgebende Verfahren steigern die Effizienz in ganz unterschiedlichen Sparten, angefangen von der Medizintechnik bis hin zur Arzneimittelforschung und Halbleiterfertigung.
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High-Speed Microscopy for Quality Control

Hochgeschwindigkeits-Mikroskopie

Die Probenpositionierung erfolgt bei AFM-Scannern für Rasterkraftmikroskopie mit piezobasierten Scantischen, die somit eine Schlüsselrolle einnehmen.
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Konfokale Mikroskopie

Mit konfokaler Mikroskopie wird die Oberflächenbeschaffenheit der Probe z. B. in der Dermatologie durch die Verschiebung der Brennebene detektiert.
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Hochauflösende dreidimensionale Oberflächeninspektion

3D-Oberflächeninspektion

Für die 3D-Oberflächeninspektion mit Picometer-Auflösung werden hochauflösende Kamerasysteme mit Weißlichtinterferometrie kombiniert.
Lens Positioning for 3-D Surface Inspection
Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie

Die Probenpositionierung erfolgt bei AFM-Scannern für Rasterkraftmikroskopie mit piezobasierten Scantischen, die somit eine Schlüsselrolle einnehmen.
Scanning Tables for Atomic Force Microscopy