Hub- und Kipp-Piezoscantische

Vertikale Positionierer und Scanner

Vertikale Positionierer von PI mit großer Apertur sind mit unterschiedlichen Ausstattungen passend für die jeweilige Anwendung erhältlich. Die Hauptanwendungsbereiche sind die verschiedenen mikroskopischen Verfahren zur Justage und Z-Rasterung (Stacking) von Proben.

Piezokippspiegel und Spiegelplattformen

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S-330 Piezo-Kippplattform

Hochdynamisch, mit großen Ablenkwinkeln, für Spiegel und Optiken

  • Auflösung bis 20 nrad
  • Hervorragende Positionsstabilität
  • Optischer Ablenkwinkel bis 20 mrad (>1°)
  • Höhere Genauigkeit und Dynamik durch Parallelkinematik
  • Nur eine bewegte Plattform mit festem Pivotpunkt verhindert Änderung der Polarisationsrichtung
  • Sub-ms-Ansprechzeit
  • Für Spiegel bis Ø 50 mm
  • Positionsgeregelte Versionen für bessere Linearität
  • Hervorragende Temperaturstabilität
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S-331 Schnelle Kippplattform

Kurze Einschwingzeit und hohe dynamische Linearität

  • Kippwinkel bis 5 mrad, optische Ablenkwinkel bis 10 mrad (0,57°)
  • Parallelkinematisches Design für identisch hohe Leistungsmerkmale für beide Kippachsen
  • Hohe Resonanfrequenzen für dynamisches Bewegen und schnelles Einschwingen
  • Positionssensoren für hohe Linearität
  • Für Spiegel bis Ø 12,7 mm (0,5")
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S-340 Piezokippplattform

Hochdynamisch für Spiegel und Optiken bis Ø 100 mm (4 Zoll)

  • Auflösung bis 20 nrad, hervorragende Positionsstabilität
  • Optischer Ablenkwinkel bis 4 mrad
  • Höhere Genauigkeit und Dynamik durch Parallelkinematik
  • Nur eine bewegte Plattform mit festem Pivotpunkt; verhindert die Änderung der Polarisationsrichtung
  • Sub-ms-Ansprechzeit
  • Für Spiegel bis Ø 100 mm
  • Positionsgeregelte Versionen für bessere Linearität
  • Hervorragende Temperaturstabilität
PI S-325
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S-325 Piezo-Hub- und Kipp-Plattform

Hochdynamisches Dreiachs-System für Spiegel und Optiken

  • Optischer Ablenkwinkel bis 10 mrad
  • Auflösung bis 50 nrad
  • Linearstellwege bis 30 µm (für Laufzeitanpassung)
  • Kompaktes Dreibein-Design: Parallelkinematik mit einer gemeinsamen Plattform erhält die Polarisationsrichtung
  • Sub-ms-Ansprechzeit
  • Positionsgeregelte Versionen für erhöhte Präzision
  • Für Optiken bis Ø 25 mm (1")
  • Spielfreie und hochgenaue Festkörperführungen
  • Höhere Genauigkeit und Dynamik durch Parallelkinematik
PI S-310
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S-310 – S-316 Piezo Hub- und Kippscanner

Hochdynamisches System mit Apertur

  • Freier Durchgang 10 mm
  • Dreibein-Piezoantrieb
  • Optischer Ablenkwinkel bis 2,4 mrad
  • Linearstellwege bis 12 µm (Phasenschieber)
  • Sub-ms-Ansprechzeit
  • Sub-µrad Auflösung
  • Positionsgeregelte Versionen für erhöhte Präzision
  • Für Optiken, Spiegel oder andere Komponenten
  • Spielfreie und hochgenaue Festkörperführungen
  • Höhere Genauigkeit und Dynamik durch Parallelkinematik
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S-224 • S-226 Hochdynamischer, kompakter Kippspiegel

  • Optischer Ablenkwinkel bis 4,4 mrad
  • Sub-mrad-Auflösung
  • Sub-ms-Ansprechzeit
  • Spielfreie und hochgenaue Festkörperführungen
  • BK7-Spiegel inklusive
  • Optionaler Positionssensor
  • Überlegene Lebensdauer dank PICMA® Piezoaktoren
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S-335 Schnelle Kippplattform

Kurze Einschwingzeit und hohe dynamische Linearität

  • Kippwinkel bis 35 mrad, hohe optische Ablenkwinkel bis 70 mrad (4°)
  • Hohe Resonanzfrequenzen für dynamisches Bewegen und schnelles Einschwingen
  • Parallelkinematisches Design: Zwei orthogonale Kippachsen mit einem gemeinsamen Drehpunkt
  • Dehnungssensoren für hohe Linearität
  • Für Spiegel bis Ø 25,4 mm (1") (auf Anfrage mit Spiegel lieferbar)