Tag: PiezoWalk

Präzise Positionierung von Proben und Objektiven

Der Schlüssel für erfolgreiches Mikroskopieren

Ob klassische Stereomikroskopie, Fluoreszenz-, Weitfeld- oder Laser Scanning Mikroskopie, ob SEM, FIB-SEM, TEM, AFM oder korrelative Mikroskopie – bei all diesen Techniken ist die Positionierung von Proben und Objektiven mit Präzision bis in den Subnanometerbereich entscheidend für die Qualität Ihres Arbeitsergebnisses. Die neue, interaktive Broschüre „Nanopositioning for Microscopy” bietet anhand...


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Präzise bewegen und positionieren durch hochauflösende Messtechnik

Externes Interferometer vs. Interner Sensor

Lesen Sie mehr dazu im neuen Whitepaper „Regelung von PI Positionierern mittels externem Zygo-Interferometer“!


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