Tag: Digitalcontroller

Präzise Positionierung von Proben und Objektiven

Der Schlüssel für erfolgreiches Mikroskopieren

Ob klassische Stereomikroskopie, Fluoreszenz-, Weitfeld- oder Laser Scanning Mikroskopie, ob SEM, FIB-SEM, TEM, AFM oder korrelative Mikroskopie – bei all diesen Techniken ist die Positionierung von Proben und Objektiven mit Präzision bis in den Subnanometerbereich entscheidend für die Qualität Ihres Arbeitsergebnisses. Die neue, interaktive Broschüre „Nanopositioning for Microscopy” bietet anhand...


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