Präzise Positionierung von Proben und Objektiven

Der Schlüssel für erfolgreiches Mikroskopieren

Ob klassische Stereomikroskopie, Fluoreszenz-, Weitfeld- oder Laser‑Scanning‑Mikroskopie, ob SEM, FIB-SEM, TEM, AFM oder korrelative Mikroskopie – bei all diesen Techniken ist die Positionierung von Proben und Objektiven mit Präzision bis in den Subnanometerbereich entscheidend für die Qualität Ihres Arbeitsergebnisses. Die neue, interaktive Broschüre „Nanopositioning for Microscopy” bietet anhand verschiedener Mikroskopietechniken eine umfangreiche Übersicht über Objektivscanner und Probentische mit bis zu sechs Freiheitsgraden in der Bewegung.

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Immer an der richtigen Stelle – auf den Nanometer genau

Mit kompakt gebauten Probentischen und Objektivpositionierern bietet PI flexible Positionierlösungen für Ihre Anwendung. In der neuen, interaktiven Broschüre „Nanopositioning for Microscopy“ finden Sie anhand zahlreicher Anwendungsfällen aus der Welt der Mikroskopie einen umfassenden Überblick über das vielseitige Angebot – bis hin zu Controller und Gewindeadapter. 

Anwendungsspezifische Antriebstechnologien

Basierend auf jahrzehntelanger Erfahrung mit Piezotechnologie hat PI mit PiezoWalk® Schreitantrieben, Piezoträgheitsantrieben und Ultraschall-Piezomotoren vielfältige hochdynamische Antriebstechnologien entwickelt, die anwendungsspezifisch eine nanometergenaue und zuverlässige Positionierung bei gleichzeitig großen Stellwegen (bis zu 300 µm) ermöglichen. Eingesetzt werden diese Antriebe in parallel-kinematischen XY-Tischen, Z-Verstellern für Tische und in PIFOC® Objektivscannern mit bis zu 400 µm Stellweg. Für größere Stellwege stehen alternativ Tische mit Linearmotoren zur Verfügung. Und für höhere Lasten (bis zu 30 kg) in der Weitfeld-Mikroskopie finden Sie mit Sechsachs-Hexapoden eine weitere ausgeklügelte Positioniermöglichkeit.

Broschüre

Mikroskoptisch-Konfigurator

Probentische und -halter für inverse Mikroskope
Version / Datum
BRO70E R3D
Dokumentsprache Englisch
pdf - 4 MB
Broschüre

Nanopositioning for Microscopy

Fast, Compact, to the Nanometer
Version / Datum
BRO28E R5D
Version / Datum
BRO28CN 2018-12
Dokumentsprache
pdf - 8 MB
pdf - 15 MB