Positionierlösungen für die interne Totalreflexionsfluoreszenzmikroskopie (TIRFM)

Bei der internen Totalreflexionsfluoreszenzmikroskopie (TIRFM), trifft der Laserstrahl für die Anregung der Fluoreszenz in einem flachen Winkel von unten auf die Glasplatte eines Objektträgers, einer Mikrotiterplatte oder einer Petrischale, um eine Totalreflexion zu erzeugen.

Das elektromagnetische Feld des Laserstrahls dringt dennoch etwas in das Probenvolumen auf der anderen Seite der Glasplatte ein und bildet dort ein evaneszentes Feld mit einer Eindringtiefe zwischen 100 bis 200 nm aus. Durch dieses reduzierte Anregungsgebiet in Z-Richtung wird eine bessere Z-Auflösung als mit Standard Weitfeld - oder Konfokaler Fluoreszenzmikroskopie erzielt. Dort liegt die Z-Auflösung typischweise bei 500 nm. Deshalb wird TIRFM häufig als vergleichsweise einfache und preiswerte hochauflösende Methode in der Fluoreszenzmikroskopie eingesetzt.

Einstellung des kritischen Einfallswinkels

Der Laserstrahl für die TIRF-Fluoreszenzanregung wird hierfür durch das vertikale Verschieben eines Strahlenkäfigs mit Spiegel und Linsen am Rand des Objektivs mit einem bestimmten Winkel eingekoppelt.

Realisieren lässt sich dies mit zwei >> Q-545 Q-Motion® Präzisions-Linearverstellern. Durch ihr piezoelektrisches Trägheitsantriebsprinzip bieten sie hohe Positionsauflösung im Nanometerbereich und sind dazu kompakt und preisgünstig. Die Ansteuerung übernimmt eine >> E-870 PIShift Treiberelektronik.

  • kompakte Bauform
  • hohe Positionsauflösung im Nanometerbereich
  • schnelle Positionierung

Hochpräzise Probenpositionierung

PILine® Kreuztische positionieren die Probe schnell und auf einen Zehntel Mikrometer genau in der Ebene, angesteuert durch >> C-867 PILine® Motion Controller.
Auf die PILine® Tische lassen sich sehr flache hochpräzise PInano® XYZ-Piezosysteme montieren, z. B. ein >> P-545.3R8S. Diese erreichen in allen drei Dimensionen: x, y und z eine Positionierpräzision von einem Nanometer.

Für tiefe Einblicke und aufschlussreiche Bilder scannt dieser die gesamte Probe in Nanometerschritten in X- und Y- Richtung. 3D-Messungen werden durch feinste Bewegung in Z-Richtung und damit verbundener Fokusverschiebung realisiert. Der PInano® bietet zudem rauscharme Positionierung mit einem sehr schnellen und zuverlässigen >> E-727 Controller.