Use Cases für hochpräzise Positionierungslösungen von PI

Sehr geehrter Besucher,

Justieren von Reflektoren in Radioteleskopen, Mikroskop-Objektive schnell auf eine Probe fokussieren, asphärische Linsen vermessen und qualifizieren oder Werkstücke für die Laserbearbeitung ausrichten – die unterschiedlichsten Anwendungen sind auf hochpräzise Positioniersysteme angewiesen. Genau dafür bietet PI zahlreiche Lösungen, die beispielsweise in der Astronomie sowie von Herstellern wie Mahr für Interferometer und WITec für Mikroskopiesysteme eingesetzt werden.

Im Folgenden stellen wir einige Anwendungen vor und möchten Sie außerdem herzlich einladen, uns vom
7. bis 10. Mai
auf der Control 2019 in Stuttgart zu besuchen. A
n unserem Messestand zeigen wir Ihnen gerne unsere Produkte live und besprechen Ihre konkreten Anforderungen Ihr kostenfreies Messeticket
können Sie bei uns anfordern.


Wir freuen uns auf Ihren Besuch!

i. A. Sarah Mall

Hexapoden positionieren ALMA‑Subreflektoren

Sensation in der Astronomie: Das Event Horizon Telescope (EHT), ein weltweites Netzwerk von acht Radioteleskopen, nahm erstmals ein Bild eines Schwarzes Lochs auf, welches am 10. April 2019 veröffentlicht wurde. Ermöglicht wurde die Aufnahme durch die Daten aus acht Observatorien auf vier Kontinenten. Wichtiger Bestandteil der beteiligten ALMA-Teleskope auf dem chilenischen Hochplateau sind die von PI entwickelten Hexapoden. Sie justieren die Position der Subreflektoren der Radioteleskope. Hexapoden müssen dabei auch unter extremen Witterungsverhältnissen zuverlässig funktionieren.

Näheres erfahren Sie im Blog.

Asphärische Linsen präzise vermessen mit H-824

Das Messtechnikunternehmen Mahr hat ein neues Gerät entwickelt, um unterschiedliche Asphären präzise, schnell, flexibel und direkt in der Produktionslinie zu messen – ganz ohne CGH, klassisches Stitching oder taktiles Antasten. Im Gegensatz zu bestehenden Systemen, die für die Messung mehrere Minuten benötigen, misst dieses geneigte Wellenfrontinterferometer (TWI) die gesamte Oberfläche in nur 20 bis 30 Sekunden. Um die hohen Anforderungen an den Positioniermechanismus im TWI sicherzustellen, verwendet Mahr den Hexapod H-824 von PI.

Mehr zum Einsatz von Hexapoden in der Vermessung asphärischer Linsen lesen Sie hier.

Piezo-Scantische für die nanoanalytische Mikroskopie

Modular aufgebaute Mikroskopiesysteme ermöglichen es heute beispielweise, ein konfokales Raman-Mikroskop bei Bedarf mit Rasterkraftmikroskopie oder Nahfeldmikroskopie (SNOM) auszustatten. Grundlage für diese höchstauflösenden Verfahren ist immer die hochpräzise Positionierung der Probe in allen drei Bewegungsachsen. WITec als Hersteller von hochauflösenden Nahfeld-Rasterkraftmikroskopen und konfokalen Ramansystemen setzt hier seit 21 Jahren auf piezobasierte Scantische von PI.

Finden Sie heraus, warum!

Interaktive Broschüre: Nanopositioning for Microscopy

Ob klassische Stereomikroskopie, Fluoreszenz-, Weitfeld- oder Laser‑Scanning‑Mikroskopie, ob SEM, FIB-SEM, TEM, AFM oder korrelative Mikroskopie – bei all diesen Techniken ist die Positionierung von Proben und Objektiven mit Präzision bis in den Subnanometerbereich entscheidend für die Qualität Ihres Arbeitsergebnisses. Machen Sie sich ein Bild von unseren präzisen Lösungen: PI fertigt Objektivscanner und Probentische mit bis zu sechs Freiheitsgraden in der Bewegung.

Stöbern Sie in der interaktiven Broschüre oder fordern Sie ein gedrucktes Exemplar an.

In 3 Schritten zur Positionierlösung

Automatisierte Produktionsprozesse gibt es nicht nur in der Montage, sondern auch in den anschließenden Inspektions- und Prüfschritten. Zunehmend werden Bewegungs- und Positioniersysteme für mehrere Freiheitsgrade benötigt, um bei mindestens gleicher oder verbesserter Qualität und Zuverlässigkeit den Durchsatz zu erhöhen.

PI hat die Erfahrung und das Know-how für komplexe, hochpräzise Lösungen - in nur 3 Schritten erarbeiten wir mit Ihnen die Positionierlösung für Ihre Automatisierungsaufgaben.

PI live erleben

Control
Halle 4, Stand 4216
07. bis 10. Mai 2019

LASER World of PHOTONICS
Halle B3, Stand 320
24. bis 27. Juni 2019

Fordern Sie hier Ihre kostenlosen Messetickets für die Control an!

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